原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類方法

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原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類方法

E+H光譜分析儀的種類繁多，常見(jiàn)的分類方法如下：

按工作光譜的區(qū)域分類：紫外-可見(jiàn)光（UV-VIS）光譜儀、可見(jiàn)光（VIS）光譜儀、紫外-可見(jiàn)光-近紅外（VIR）光譜儀等類型

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原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類方法

E+H光譜分析儀的種類繁多，常見(jiàn)的分類方法如下：

按工作光譜的區(qū)域分類：紫外-可見(jiàn)光(UV-VIS)光譜儀、可見(jiàn)光(VIS)光譜儀、紫外-可見(jiàn)光-近紅外(VIR)光譜儀等類型

按分光系統(tǒng)分類：棱鏡分光光譜儀、光柵分光光譜儀、濾色片分光光譜儀

按光路數(shù)量分類：?jiǎn)温饭庾V儀、多路光譜儀

按探測(cè)器分類：在可見(jiàn)光范圍內(nèi)主要有PMT光譜儀和CCD光譜儀兩種，在紫外、近紅外范圍內(nèi)還有專門(mén)的探測(cè)器類型

按掃描方式分類：機(jī)械掃描式光譜儀、快速掃描式光譜儀

按測(cè)量對(duì)象和測(cè)量結(jié)果的用途分類：分析用光譜儀、光色測(cè)量用光譜儀

在照明行業(yè)，通常使用的都是可見(jiàn)光光色測(cè)量光譜儀，又細(xì)分為機(jī)械掃描式和陣列掃描式兩種

單色儀有入射和出射兩個(gè)狹縫，入射狹縫用來(lái)限制雜散光的進(jìn)入，一般位于準(zhǔn)直鏡的焦點(diǎn)上。出射狹縫用來(lái)限制光譜帶寬，一般位于物鏡的焦點(diǎn)上。狹縫通常由兩個(gè)具有銳利刀口的精密金屬片構(gòu)成，分為固定狹縫、單邊可調(diào)非對(duì)稱式狹縫和雙邊可調(diào)對(duì)稱狹縫幾種。用于光色測(cè)量的亮度計(jì)中，兩個(gè)狹縫通常設(shè)計(jì)為等寬，且不能自行調(diào)節(jié)。在用于材料分析的亮度計(jì)中，狹縫往往設(shè)計(jì)成可由儀器自動(dòng)調(diào)節(jié)寬度。

E+H光譜分析儀一般由分光系統(tǒng)、接收系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成，其工作原理是將光源發(fā)出的復(fù)色光按照不同的波長(zhǎng)分離出來(lái)，配合各種光電探測(cè)器件對(duì)譜線強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量，獲得光譜功率(輻射)分布，再計(jì)算出色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、光通、輻射通量等光色性能參數(shù)。

原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類方法